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阜拓科技股份有限公司

極紫外光源 EUV Light Source

阜拓科技股份有限公司專注於專業極紫外光源 EUV Light Source領域,我們以多年累積的核心技術及經驗,配合顧客的各種需求,提供高品質的極紫外光源 EUV Light Source產品服務。我們提供光源 Light Source詳細產品服務資訊,歡迎您利用表單方式與我們聯繫,我們將竭誠為您服務。

在極紫外光(EUV)的進階應用領域中,TEUS 是一套主打「高亮度、低碎片」的革命性13.5nm雷射電漿極紫外光 (LPP EUV) 光源產品。

為了打造純淨的光子源,TEUS 跳脫了傳統框架,搭載了全新獨創的「快速旋轉液態金屬靶 (fast rotating liquid metal target)」核心技術。

這項獨家設計搭配多重常規防護機制,不僅能為高頻雷射提供完美的靶材表面以實現極致的脈衝穩定度,更實現了純淨無污染的 EUV 光子輸出,能徹底防止任何微小污染粒子進入包含光罩 (reticle)、防護膜 (pellicle) 等極度敏感的元件區域。

透過 TEUS,您將獲得超越以往的極致亮度,並以前所未有的超低總體擁有成本,迎接次世代的 EUV 微影與檢測挑戰。

雷射功率 100W / EUV 功率 8.5mW

TEUS S-100 EUV LIGHT SOURCE

13.5nm 極紫外光源,高亮度、極少殘留物

高負載循環且為一站式的系統方案,使用者友善並搭載自動通訊協定,確保系統平穩運行,無風險、不中斷。

• 高亮度 (即高輸出),同時具有卓越的穩定性
• 極少殘留物
• 極高的運作時間

◆ 應用領域 - 光罩表面檢查:
圖形光罩檢測 (PMI)
區域光罩檢測 (AIMS)
光罩基板檢測 (MBI)
EUV 掃描儀偵測中的 EUV 光學鏈
材料科學
晶圓檢查


雷射功率 200W / EUV 功率 17mW

TEUS S-200 EUV LIGHT SOURCE

13.5nm 極紫外光源,高亮度、極少殘留物

高負載循環且為一站式的系統方案,使用者友善並搭載自動通訊協定,確保系統平穩運行,無風險、不中斷。

• 高亮度 (即高輸出),同時具有卓越的穩定性
• 極少殘留物
• 極高的運作時間

◆ 應用領域 - 光罩表面檢查:
圖形光罩檢測 (PMI)
區域光罩檢測 (AIMS)
光罩基板檢測 (MBI)
EUV 掃描儀偵測中的 EUV 光學鏈
材料科學
晶圓檢查


雷射功率 400W / EUV 功率 34mW

TEUS S-400 EUV LIGHT SOURCE

13.5nm 極紫外光源,高亮度、極少殘留物

高負載循環且為一站式的系統方案,使用者友善並搭載自動通訊協定,確保系統平穩運行,無風險、不中斷。

• 高亮度 (即高輸出),同時具有卓越的穩定性
• 極少殘留物
• 極高的運作時間

◆ 應用領域 - 光罩表面檢查:
圖形光罩檢測 (PMI)
區域光罩檢測 (AIMS)
光罩基板檢測 (MBI)
EUV 掃描儀偵測中的 EUV 光學鏈
材料科學
晶圓檢查


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