光學後向散射反射儀 - Backscatter Reflectometer - 阜拓科技

Luna的光學背向散射反射儀ᵀᴹ 產品系列屢獲殊榮，而Luna OBR 4600正是其中之一。

OBR 4600專為元件和短期網路測試與故障排除而設計，可實現具有背向散射等級靈敏度的超高解析度反射測量。
具有低至10 微米的採樣解析度、零盲區、極低的噪聲基底，以及擴展範圍、分佈式溫度和應變感測選項。
OBR 4600 提供了業界領先的反射測量技術，讓您能夠以前所未有的方式「看進」您的元件和系統。

要對現代光學設備和系統 （包括光子積體電路 (PIC)）進行損耗、色散和偏振分析，Luna OVA 5100 是最快、最準確又經濟實惠的工具。

OVA 5100 是 OVA 5000 的直接替代品，具有同等的功能，但包裝尺寸更小、重量更輕。
OVA 5100是單連接的理想設備，僅需一次可調諧雷射的掃描，即可針對從耦合器到特殊光纖等各種光纖元件進行全面特性分析，包括光子布拉格光柵、陣列波導光柵、自由空間濾波器、可調式器件、放大器等，實現全參數測量。