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LE-0400,Diode laser,二極體雷射,雷射二極體
LE-0400 Diode laser Characterization
LE-0400 二極體雷射表徵
首先，它們不具有固有定義的確定波長。雷射躍遷不是在兩個確定的能級之間發生，而是在兩個能帶之間發生。
其次，與傳統雷射中的共振器不同，雷射二極體的腔體是由二極體的pn接面所定義的。
這些實驗研究了發射出來的雷射波長隨溫度和電流變化的情況。同時，還對雷射發射的發散度和偏振進行了檢查。實驗裝置包括一個現代 30 mW 綠光 (525 nm) 雷射二極體，具有整合式的帕帖爾元件（制冷晶片）、支架與驅動器。配備了聚焦光學元件、透鏡和偏振分析器以及一個光電二極體探測器。
頻譜分析儀可作為選購品。所有的光學支架和定位器都已包含在內。
雷射二極體安裝在一個旋轉台中，該旋轉台可獨立繞著光束傳播軸以及垂直於該軸旋轉，以測量發射雷射光線的空間分佈。
運用偏振器來分析不同注入電流值的偏振。光譜分析儀則會用於測量透過改變溫度和注入電流而引起的波長變化，每°C大約變化0.05 nm。
二極體雷射控制器的溫度範圍可以從10°C至60°C 之間變化，這會導致 2.5 nm 的偏移。溫度和注入電流會由控制器來穩定與顯示。建議使用示波器來抑制干擾的環境光。在這種情況下，一些測量會使用調變二極體雷射進行。
相關主題：
• Green (520 nm) Laser Diode
• Twofold rotational stage
• Spatial intensity distribution
• Beam profile
• Cylindrical lenses
• Beam shaping
• Photodetector
• 綠光 (520 nm) 雷射二極體
• 雙折旋轉台
• 空間強度分佈
• 光束輪廓
• 柱面透鏡
• 光束整形
• 光電探測器
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LE-0400 Diodelaser Characterisation, consisting of: |
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Item |
Code |
Qty. |
Description |
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1 |
CA-0060 |
1 |
Infrared display card 0.8 -1.4 µm |
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2 |
DC-0040 |
1 |
Diode laser controller MK1 |
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3 |
DC-0120 |
1 |
Si-PIN Photodetector, BPX61 |
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4 |
MM-0020 |
3 |
Mounting plate C25 on carrier MG20 |
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5 |
MM-0100 |
1 |
Target Cross in C25 Mount |
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6 |
MM-0110 |
1 |
Translucent screen on carrier MG20 |
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7 |
MP-0150 |
1 |
Optical Bench MG-65, 500 mm |
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8 |
OC-0220 |
1 |
Cylindrical lens f = 20 mm in C25 mount |
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9 |
OC-0280 |
1 |
Cylindrical lens f=80 mm in C25 mount |
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10 |
OM-0400 |
1 |
Rotary Polariser / Analyser 360° on Carrier 20 mm |
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11 |
OM-0510 |
1 |
Diode laser head in twofold rotary mount |
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12 |
OM-0620 |
1 |
Collimating optics on carrier MG20 |
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13 |
UM-LE04 |
1 |
Manual diode laser |
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Option (order separately) |
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14 |
CA-0200 |
1 |
Oscilloscope 100 MHz digital, two channel |
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15 |
CA-0270 |
1 |
Fibre coupled spectrometer 200 - 1200 nm, USB |