LUNA 光纖組件產線測試解決方案

2026/01/26

 

Luna 先進的測試與量測技術,協助製造商高效確保產品品質一致性。基於光頻域反射技術 (OFDR) 的產線系統(如 OBR 4600 與 Luna 6415),是光纖元件與組件在產線測試快速、可靠的理想選擇。

相較於傳統的回波損耗 (Return Loss, RL) 與插入損耗 (Insertion Loss, IL) 量測方法,Luna 系統具備更高的量測速度與精確度,並能提供更全面的測試覆蓋率與細節解析。

除了提供大多數光纖測試所需的標準損耗量測外,Luna 的 OBR 系統更具備空間解析損耗分析 (Spatially-resolved Loss Analysis) 功能,以提供更深入的洞察與診斷;此外,亦能進行高精密度的長度與延遲 (Latency) 量測,以及針對波長相關元件 (Wavelength-dependent Components) 的光譜分析。

 

【LUNA OFDR/OBR 核心能力對照表】

OFDR/OBR 能力 製造測試優勢
反射量測(Reflection measurements) 單端連接可同時測量IL和RL
空間分辨損耗量測(Spatially-resolved loss measurement)

局部損耗特徵分析

定位損耗與失效點

精確測量損耗長度

光譜分析(Spectral analysis) 測試波長相關函數
高動態範圍和靈敏度(High dynamic range and sensitivity) 更高的準確度和精度
高速量測(High-speed measurements) 提高測試通量

 

參考資源:

1. 光學背向散射反射儀(OBR)— 概述與應用

2. OFDR 如何重新定義光學元件特性分析

 

🔗原始文章出處:Manufacturing Test of Fiber Optic Assemblies

 

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