ISTEQ XWS 系列:基於全球專利 LPP 技術的革新之光,單一光源,全頻譜超越 🌐

2025/05/23

ISTEQ XWS 系列:基於全球專利 LPP 技術的革新之光,單一光源,全頻譜超越 🌐

在當今高度精密的科學與產業應用中,光源的選擇攸關整體系統的效率與量測精度。傳統光源受限於頻譜範圍、壽命與維護需求,往往需組合多顆光源並行,導致架構複雜、整合困難與成本上升。

ISTEQ 所推出的 XWS 系列寬頻電漿光源,正是針對這些痛點所打造,以全球專利的雷射電漿 (Laser Produced Plasma, LPP) 技術為基礎,在單一模組內實現從深紫外 (UV) 到近紅外 (NIR) 的全頻譜輸出,有效簡化光學設計並提升應用彈性。

💡 LPP 技術對傳統光源的突破

XWS 系列所採用的 LPP 技術,透過雷射束持續注入能量,精準加熱燈管中的氙氣 (Xenon) 介質,進而穩定產生並維持電漿放電。此無電極設計不僅帶來更長的使用壽命與更高的穩定性,也大幅減少更換與維護頻率。

相較於依賴電極放電的傳統光源 (如鎢/鹵素燈、氙弧燈、氘燈與 LED),若要涵蓋從深紫外到近紅外的完整頻譜,往往需搭配多顆燈源,不僅造成系統複雜、光路效率降低,也提升總體使用成本。XWS 系列的單一光源設計有效整合所有需求,為用戶帶來更簡潔高效的光學解決方案。

XWS-系列


⚙️ XWS 系列
五大核心性能優勢

🔹 無電極設計,穩定且高壽命

LPP 技術排除傳統燈泡電極耗損問題,使 XWS 系列平均壽命可達 10,000 小時,降低維修與停機成本。

🔹 雙光譜版本,對應多元場域
  • UV 配置:適用於 185 nm - 2700 nm
  • 無臭氧配置 (OFR):適用於 240 nm - 2700 nm

🔹 高光譜亮度與微小發光體積
在 350 - 550 nm的平均亮度範圍可達 42 - 120 mW / (mm²·nm·sr),XWS-X 型號更達到 130 mW / (mm²·nm·sr)。

發光體積微小,例如 XWS-X 型號為 150×260 µm,可有效提升與光學系統的耦合效率。

🔹 極低穩定性波動,數據更可靠

XWS-30 與 XWS-65 光源穩定度可低至 <0.15%,XWS-X 更進一步達到 <0.05%,支援高重複性的長時間精密量測。

🔹 高功率輸出與彈性配置選項

XWS-65 自由空間輸出最高可達 1.8 W,三種機型光纖輸出功率約 300 - 650 mW,支援 SMA、FC 光纖接口。


📦 彈性設計與完整產品線

XWS 系列涵蓋多款標準與客製型號:

  • XWS-65:標準款,適用於多種精密量測應用。

XWS-65 標準款

Spectral brightness of XWS-65 light source in UV and VIS spectral region



  • XWS-30:體積僅 149×166×145 mm,緊湊設計不需額外冷卻器,利於系統整合。

XWS-30 輕巧不需冷卻器

Spectral brightness of XWS-30 light source in UV and VIS spectral region



  • XWS-X:針對深紫外段最佳化,在 250 nm 以下亮度較 XWS-65 UV 提高約 6 倍。

XWS-X 深紫外段最佳化

Spectral brightness of XWS-X light source in UV and VIS spectral region


ISTEQ 團隊亦提供亮度客製化與系統搭配諮詢服務。


🔬 精密應用全面涵蓋

XWS 系列光源廣泛應用於以下精密技術領域,依其功能可歸納為三大類別:

🔍 光學與表面分析

  • 光譜學 (Spectroscopy):如吸收光譜和螢光光譜
  • 表面計量 (Surface Metrology):如橢偏儀 (Ellipsometry) 和散射儀 (Scatterometry)
  • 薄膜測量 (Thin-film measurement) 與關鍵尺寸 (CD) 計量 (Critical Dimension Metrology)
  • 學元件測試 (Optical component testing)


🧪
顯微與生醫應用

  • 顯微鏡 (Microscopy):包括高解析度顯微鏡、共聚焦顯微鏡 (confocal) 和螢光顯微鏡 (fluorescence)
  • 生物醫學應用 (Biomedical applications):如光動力療法 (photodynamic therapy)
  • 細胞計數儀 (cytofluorimeters)

 

⚙️ 工業與實驗系統整合

  • 微電子產業 (Microelectronics):診斷系統、污染和缺陷控制 (contamination and defect control)
  • 各種分析檢測系統:如色譜儀檢測器 (Detectors in chromatography)、微流控裝置 (microfluidics)、晶片實驗室 (Lab-on-a-chip)、液滴光譜儀 (droplet spectrometers)
  • 增材製造技術 (Additive technologies):如光聚合 (photopolymerisation)
  • 人工日光系統 (Artificial sunlight systems):用於測試或照明



🛠️ 系統整合與控制彈性

XWS 系列支援多種外部控制介面 (USB、RS-485、RS-232、RJ45 Ethernet),搭配 Windows GUI 軟體控制介面,便於整合至現有自動化平台。



以下為 XWS 系列三種機型的主要技術規格,協助您快速比較差異與做為選型依據:

🖊️ XWS 系列規格表

MODEL

XWS-30

XWS-65

XWS-X

SOURCE PERFORMANCE

Spectral range 190 - 2500 nm UV configuration

Spectral range 250 - 2500 nm OFR configuration

Maximum spectral brightness for UV configuration
(avg for 350 - 550 nm), mW / (mm²·nm·sr), min / avg / max

34/42/48

50/58/68

105/120/130

Maximum spectral brightness for OFR configuration
(avg for 350 - 550 nm), mW / (mm²·nm·sr), min / avg / max

50/56/60

Output power Free space

up to 1 W

up to 1.8 W

up to 1.5 W

Output power via fiber 600 µm, mW min / avg / max

300 / 319 / 350

510 / 560 / 630

510 / 575 / 650

Emitting body size for UV configuration (spectral range 350 - 550 nm), µm

160x320

160x360

150x260

Lifetime (hours)

10000

10000

10000

Temporal and spatial stability

STD < 0.15%

STD < 0.15%

STD < 0.05%

Lamp medium

Xenon

Xenon

Xenon



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