應用範例
利用雷射干涉儀實現半導體設備機台內 移動平台裝置之位移及偏擺即時訊號回授反饋控制
摘要
隨著當今EUV機台設備和電子束技術的蓬勃發展,實現奈米級的定位精度變得愈發重要,
例如晶圓、光罩、光束、光學元件及鏡片的定位。
特別是快速和長距離移動,只有在使用相對應的量測系統與運動控制器間進行閉迴路回授訊號控制時才能達到此精度。
這些量測系統必須滿足包括超高真空(UHV)和無塵室相容性、高溫暴露,以及隨著晶圓尺寸的增大,對大範圍移動精度的需求。
Attocube 專為奈米級精度應用開發並獲得基於 Fabry-Pérot 干涉原理的位移干涉儀型號IDS3010專利。
IDS3010可達到皮米解析度和奈米準確度進行回授運動控制和位移檢測,並且具備25Mhz頻寬擷取率。
IDS3010設備提供三個訊號通道,用於測量多軸平臺的位移和角度變化。

圖1 : Attocube公司生產的IDS3010干涉儀
系統架構
測量機台設備如圖2所示,包括一個沿Y軸移動一公尺的電磁XY平台。
在移動平台上放置了兩個1530nm波段的反射鏡,作為測量表面。
為了準確控制平台位置,我們裝設了三個固定準直訊號感測探頭 ( CH1、CH2及CH3,型號 : M12/C1.6 )。
兩個感測探頭(CH1和CH2)測量YZ平面反射鏡的位移,第三個感測探頭(CH3)量測Y軸。
CH1的SinCos信號可用於X軸的回授閉迴路控制。
CH1和CH2水平距離40 mm,因此可以計算出YZ平面產生的YAW偏擺誤差即時補償。
測量反射鏡時,M12/C1.6感測探頭在1公尺距離內的角度容許誤差為±30 m°。
這種誤差在對齊精確的XY平台設置時仍然是在容許範圍內,並且保證了低餘弦誤差。
這是相較其他干涉儀製造商有額外再系統架設上的優勢。
IDS3010提供即時位置回授及反饋的數據(SinCos, AquadB, HSSL, 線性模擬輸出和BissC)。
在我們的實驗中,我們使用了具有5 MHz頻寬和奈米級解析度的SinCos數據輸出連接到運動平台的控制器。
並且使用環境補償單元(ECU)來確保測量的準確性。
在真空條件下,環境補償是不需要的,這是半導體應用的標準,從而實現更高的精度。

圖2 : 12吋晶圓裝設在移動平台上,平台邊上裝設有1530nm波段反射鏡片,並且將三顆感測探頭裝設在機台上。
測量結果
如圖3a所示,首先進行了一個30 x 30 mm的方形移動,然後Y軸移動總行程達到1公尺。
值得注意的是,再1公尺的距離量測距離,CH3對CH1和CH2有大約300 mm的偏移距離。
圖3b顯示了平台移動的相對YAW偏擺(Z軸旋轉)。
圖表顯示,Y軸移動達到1公尺時,YAW偏擺旋轉增加到約30 m°。
圖3c顯示了在µ°範圍內的重複角度偏差,這主要是由沿運動軸分佈的磁極距離引起的。
如果電磁平台有額外的精確旋轉設備,則可以補償YAW偏擺旋轉。

圖3
結論
IDS3010證明是一個適用於閉迴路訊號回授反饋XY平台應用的工具。位移和角度都可以在高達25 MHz的頻寬訊號。
輕便小型化(7公克)的感測探頭允許靈活的裝配架設,並且確保對要求苛刻的奈米級定位的可用性和準確性。
以太網連接和多種標準編程語言(如C+、C#、DLLs、Python和LabVIEW)允許輕鬆地整合到各種不同系統中。
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Capacitec 手持數位式間隙量測儀:Gapman
圖1:Gapman手持數位式間隙量測儀使用示意圖

藉由自由度高的可饒性量測感應片材料特性,可以輕易量測任何間隙位置,透過儀器上的數位顯示面板可立即獲得間隙量測結果數值,可避免使用傳統厚薄規量測所產生的人為誤差。
圖2:數位顯示面板即時顯示間隙量測數值,並可記錄所有量測數據

圖3:量測數據可儲存並可將儲存檔案(.xml)上傳至個人電腦內

圖4:實際使用Gapman量測間隙示意圖

除了一般上下平行兩面的間隙外,Gapman也有針對在滾輪間隙(Roller to Roller)的量測套件,可按照使用者的需求客製符合滾輪外徑的量測固定置具,可確保印刷製造過程中滾輪間的準確間隙距離設定。
圖5:Gapman量測滾輪間隙使用示意圖

圖6:Gapman滾輪間隙量測置具

圖7:實際使用Gapman進行滾輪間隙量測

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Accuracy |
±0.5% full
scale |
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Repeatability |
±0.05% full scale |
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Resolution |
.0001mm , 0.254um ,
0.0001” |
|
Calibration |
Factory preset, traceable to NIST(美國國家標準技術研究所) |
|
Thin gap sensor wands |
Select from over 20
standard models, custom wands available |
|
Display |
Bright blue alphanumeric active matrix OLED
display, 128 x 64 pixel, 1.54” (39.12mm) |
|
Data output |
USB Type A locking to
standard USB cable Blue Tooth v2.0 Class 1
10m standard, 30m optional with receiver |
|
Internal power |
3 AA batteries for battery life of 22 hours
max, 1/3 less with wireless |
|
External power |
USB Type A AC universal
power adapter, or laptop PC |
【壓電效應】在我們的日常用品中發揮了什麼魔法?快進來一探究竟!
⚡️這就是壓電效應的神奇之處!就像日常生活中各種熟悉的材質(例如陶瓷),居然能在壓力下發電,是不是覺得超神奇?! 😲 現在就跟著小編來看看壓電材料的小故事吧!
壓電效應在我們生活中隨處可見,就拿以下的例子來說:
🔥1.打火機: 現代大多數的打火機都運用了壓電陶瓷。在按下按鈕時,壓電陶瓷會產生電荷引發火花並點燃打火機。
⏰2.電子鬧鐘: 當鬧鐘響起時,壓電陶瓷因電場作用而振動,產生聲音,取代了傳統的電磁蜂鳴器。
⚙️3.柴油引擎: 柴油引擎的燃油噴射系統中,也用到了壓電噴射器。能夠更迅速、更精準地控制燃油的噴射,提高燃燒效率、並減少排放。
「壓電」一詞源自於希臘文的 “pressure”,居里兄弟在1880年發現:對石英晶體施加壓力竟然能產生電位,稱為「壓電效應」。
後來他們更發現,壓電材料在電場下會改變形狀,被稱為「逆壓電效應」,而這種技術首次在商業上被使用是在第一次世界大戰時的聲納系統。
壓電材料可以把電能轉換成動力,反之亦然。當你對這些材料施加電位時,它們會產生非常精準的運動,這在奈米定位中扮演著關鍵角色。⭐
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皮秒級精度光纖延遲測試- Luna OBR 系統
Luna 的 OBR 系統能夠以皮秒級的精度測量光纖延遲。
能夠測量並驗證光纖網路或連線的延遲/長度,對於某些關鍵的網路應用及光纖系統來說是非常重要的一項功能。
在訊息處理對時間要求極高的光纖網路中 (例如高速交易),延遲就成為了一個非常關鍵的設計元素。
高速金融交易需要
通訊網路中的延遲包括:訊息的網路處理,以及透過實體光纖的傳輸延遲。
測量和優化這種光學傳輸延遲,不論是對於診斷數據中心的延遲問題,或是在精密光纖的生產過程中做好品質控管,都非常重要。

同樣地,一些光纖系統(例如干涉儀和雷達系統),也需要依賴非常精確的光纖長度和延遲才能正常運作。
幸運的是,Luna 的 OBR 系統能夠以皮秒級的精度測量光纖的延遲時間。
舉例來說,OBR 4600能夠以10微米的採樣解析度和<0.0034%的絕對精度測量網路延遲。對於100 m 的網絡,這代表著3.4 mm(或約 16 皮秒)的測量精度。 攜帶方便又堅固耐用的 OBR 6225 能夠為100 m 的網路提供相近的 4 mm 精度。
➡️資源:
➡️文章來源:https://lunainc.com/solution/fiber-optic-latency-testing
➡️Luna: OBR 4600光學背向散射反射儀:https://forter.pse.is/5wl6k6
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光子積體電路(PIC)與矽光子測試🔍
光子積體電路 (PIC) 是推動通訊、光運算、
航空航太、國防和醫療應用進步的關鍵因素。
然而,PIC也帶來了獨特的測量挑戰。
要將產品推向市場,測試環節依舊是總成本中占比最大的一部分。
要對現代 PIC 進行有效測試需要更全面、更複雜的方法,
以確保最佳效能並降低開發成本。
Luna 廣泛的測試和測量解決方案為客戶提供了高精度、
高解析度和高測量速度的儀器,以定量評估晶片上每個組件的光學性能,
無論是在原型設計階段還是在生產階段。
Luna 具有以微米級空間解析度在透射模式或反射模式下觀察光子積體電路 (PIC) 內部的技術,
可以對裝置進行完整的光學特徵分析。
典型的測量項目包括:
- 插入損耗 (IL)
- 回波損耗 (RL)
- 偏振相依損耗 (PDL) 與波長
- 反射率/傳輸損耗與距離
- 反射率/傳輸損耗與波長
- 相位響應
- 群延遲(GD)
- 色散 (CD) 與波長
- 偏振模色散 (PMD) 與波長
- 二階 PMD 與波長
- 極化引起的最小/最大損耗
- 脈衝響應
- Jones 矩陣與Mueller 矩陣元素
- 波紋態– 線性和二次
- 偏振性能與距離
- 偏振串擾與距離
- 偏振度 (DOP)、偏振狀態 (SOP) 和偏振消光比 (PER)
➡️資源:
➡️文章來源:https://lunainc.com/solution/pic-and-silicon-photonics-testing
➡️Luna: OBR 4600光學背向散射反射儀:https://forter.pse.is/5wl6k6
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